GET CONTROL手持式測試儀E84 HHT怎么樣？

GET CONTROL 手持式測試儀E84 HHT是專(zhuān)為半導體 300mm 晶圓廠(chǎng)設計的便攜式 E84 接口測試工具，聚焦于 E84 標準（SEMI E84，晶圓盒傳輸接口協(xié)議）的快速故障診斷與維護。

主要技術(shù)參數

內置符合 E84 標準的紅外收發(fā)器

DB-25 公頭（有源）和 DB-25 母頭（無(wú)源）端接

續航：自帶充電電池

存儲：SD閃存卡接口

接口：RS-232 串行通信接口

尺寸：9.3英寸×4.9英寸×1.6英寸（236毫米×125毫米×41毫米）

可靠性：高

功能特點(diǎn)

實(shí)時(shí)信號可視化：內置GCI E84 DLD 數據記錄器與RJ-11 光收發(fā)器，實(shí)時(shí)顯示 E84 通信信號（如 FOUP 加載 / 卸載指令）的時(shí)序圖，支持模擬電壓（DC 電平）與電流的動(dòng)態(tài)測量，精準捕捉導致接口故障的信號毛刺（如 OC 門(mén)邏輯異常）。

自動(dòng)化測試流程：集成E84 模擬器同款標準測試套件，支持一鍵執行負載（Load）/ 卸載（Unload）循環(huán)測試，自動(dòng)提示操作步驟（如 “請插入 FOUP”）并同步倒計時(shí)，還原設備驗收測試環(huán)境，確?，F場(chǎng)排查與研發(fā)標準一致。

數據存儲與分析：SD 卡接口支持測試結果本地存儲（ASCII 文本 + 二進(jìn)制格式），兼容 GCI E84 分析軟件，可導出至 PC 生成專(zhuān)業(yè)報告，便于歷史數據追溯與批量問(wèn)題分析。

極端環(huán)境適應性：電池供電（無(wú)外接電源依賴(lài)），支持產(chǎn)線(xiàn)現場(chǎng)離線(xiàn)測試；防塵抗振設計，適應晶圓廠(chǎng)潔凈室環(huán)境；操作界面簡(jiǎn)潔，支持單手握持，降低工程師疲勞。

應用場(chǎng)景：晶圓廠(chǎng)產(chǎn)線(xiàn)維護、設備調試與驗收、遠程故障支援等。