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標準 AT 切割晶體在 100°C 以上就會(huì )開(kāi)始失效,產(chǎn)生噪聲、不穩定性和不可靠的膜厚讀數。PHILLIPTECH的 HT 系列經(jīng)過(guò)專(zhuān)門(mén)設計,可在 250°C 至 400°C 的環(huán)境下保持穩定、準確的性能,是高溫 QCM 應用的理想解決方案。
這些 6.000 MHz AT 切割晶體采用雙錨電極布局(Inficon 風(fēng)格),并提供金、銀或鋁電極。每個(gè)晶體均具有應力不敏感、等離子體兼容的特性,并針對熱負荷、反應性氣氛和濺射條件下的實(shí)時(shí)測量進(jìn)行了優(yōu)化。
電極選項
金 (Au):化學(xué)惰性且熱穩定——適用于原子層沉積 (ALD)、腐蝕性蒸汽工藝和有機薄膜生長(cháng)
銀 (Ag):在潔凈真空條件下具有高的Q值——是光學(xué)和介電薄膜加工的理想選擇
鋁 (Al):適用于高溫濺射和涉及鋁的工藝;與石英具有熱匹配性
所有電極均在受控真空環(huán)境中沉積,并經(jīng)過(guò)邊緣質(zhì)量和附著(zhù)力檢測。
產(chǎn)地:美國
頻率:6.000 MHz ±75 Hz
晶體切割:AT(HT 配方)
電極結構:雙錨式(Inficon 型)
直徑:14 mm
工作溫度范圍:100°C 至 400°C
Q 值:>80,000(典型值)(高溫配置)
應力敏感性:熱循環(huán)下很小甚至無(wú)應力敏感性
包裝規格:10
重量:0.05 磅
尺寸:0.375 × 0.375 × 0.35 英寸
原子層沉積 (ALD)
化學(xué)氣相沉積 (CVD)
高溫OVPD和PVD
基于爐的工藝(硒化、擴散)
OLED制造
光學(xué)干涉鍍膜
太陽(yáng)能電池層形成
HT晶體可集成到大多數商用QCM系統中,但與Colnatec高溫傳感器頭或類(lèi)似額定硬件搭配使用時(shí)性能更好。
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